製造中に測定されたパルス幅を取得するには、完全なスペクトルが必要です。 また、外側の低レベルの翼は、指定されたように短いパルス幅を得るのにかなり貢献します。 したがって、スペクトルのエッジをクリッピングするか、分散プロパティに指定された範囲外の分散ミラーを使用すると、劣化が発生し、パルス幅が指定された値に到達できなくなります。
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製造中に測定されたパルス幅を取得するには、完全なスペクトルが必要です。 また、外側の低レベルの翼は、指定されたように短いパルス幅を得るのにかなり貢献します。 したがって、スペクトルのエッジをクリッピングするか、分散プロパティに指定された範囲外の分散ミラーを使用すると、劣化が発生し、パルス幅が指定された値に到達できなくなります。
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